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磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范(JJF 1273—2011)校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)及復(fù)校時(shí)間
校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)
1 磁粉探傷機(jī)校準(zhǔn)原始記錄的格式參見(jiàn)附錄B。
2 數(shù)據(jù)修約
磁粉探傷機(jī)電流的測(cè)量結(jié)果應(yīng)按4舍5入及偶數(shù)法則進(jìn)行修約。該數(shù)據(jù)末位數(shù)約到被校探傷機(jī)基本誤差極限的1/10位。判斷探傷機(jī)的電流誤差是否超過(guò)基本誤差極限時(shí),應(yīng)以修約后的數(shù)據(jù)為準(zhǔn)。
3 探傷機(jī)校準(zhǔn)證書(shū)(報(bào)告)應(yīng)至少包括以下信息:
a)標(biāo)題,如“校準(zhǔn)證書(shū)”或“校準(zhǔn)報(bào)告”;
b)實(shí)驗(yàn)室名稱(chēng)和地址;
c)進(jìn)行校準(zhǔn)的地點(diǎn)(如果不在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行校準(zhǔn));
d)證書(shū)或報(bào)告的惟一性標(biāo)識(shí)(如標(biāo)識(shí),每頁(yè)及總頁(yè)數(shù)的標(biāo)識(shí));
e)送校單位的名稱(chēng)和地址;
f)被校對(duì)象的描述和明確標(biāo)識(shí);
g)進(jìn)行校準(zhǔn)的日期,如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí),應(yīng)說(shuō)明被校對(duì)象的
接收日期;
h)如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí),應(yīng)對(duì)抽樣程序進(jìn)行說(shuō)明;
i)對(duì)校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范的標(biāo)識(shí),包括名稱(chēng)及代號(hào);
J)本次校準(zhǔn)所用測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的溯源性及有效性說(shuō)明;
k)校準(zhǔn)環(huán)境的描述;
l)校準(zhǔn)結(jié)果及其測(cè)量不確定度的說(shuō)明;
m)校準(zhǔn)證書(shū)和校準(zhǔn)報(bào)告簽發(fā)人的簽名、職務(wù)或等效標(biāo)識(shí),以及簽發(fā)日期;
n)校準(zhǔn)結(jié)果僅對(duì)被校對(duì)象有效的聲明;
o)未經(jīng)實(shí)驗(yàn)室書(shū)面批準(zhǔn),不得部分復(fù)制證書(shū)或報(bào)告的聲明。
校準(zhǔn)證書(shū)(報(bào)告)內(nèi)頁(yè)格式參見(jiàn)附錄C。
復(fù)校時(shí)間間隔
建議磁粉探傷機(jī)復(fù)校時(shí)間間隔不超過(guò)1年。送校單位也可根據(jù)實(shí)際使用情況,自主決定復(fù)校時(shí)
間間隔。